Mess- und Prüftechnik

embeX entwickelt und liefert automatisierte Test- und Prüfsysteme, die gleich mehrfach Verwendung finden in Voruntersuchungen, während der Entwicklung, in der Typprüfung und bei der nachfolgenden Produktion - und somit erheblich Kosten einsparen.

Darüber hinaus entwickelt embeX Prüfstände für die Erprobung von Komponenten und Systemen unter realistischen Bedingungen. Hierzu greifen wir auf eine einheitliche Plattform, die embeX Mess-PLattform MPL basierend auf LabVIEW und TestStand zurück, um eine effiziente und flexible Nutzung zu ermöglichen. Mit Hilfe der embeX MPL decken wir alle Phasen des Produkt-Lebenszyklus mit einer Plattform ab: Von der Nutzung in der Vorentwicklung, über die Verifikation bis zur Produktion und Reparatur, After-Sales sowie der Entwicklung von Produktvarianten.

Die jeweils in den Phasen zum Einsatz kommende Hardware orientiert sich an den individuellen Anforderungen. Die Mess- und Prüfprogramme stellen jeweils eine Untergruppe aller verfügbaren Programme dar. Hierdurch kann auch Produkt-übergreifend durch vertikale und horizontale Integration eine hocheffiziente Nutzung der Messplattform sichergestellt werden. Auf Grund unserer langjährigen Erfahrung in der Mess- und Prüf-Technik können wir Mess- und Prüf-Systeme ausgehend von einer großen Plattform stets individuell auf Ihre Anforderungen zuschneiden.

Automatisierte Test-Systeme

Im Rahmen der Entwicklung von hoch-qualitativen Embedded-Systemen bedarf es einer umfangreichen Prüfung und Erprobung. Hierfür setzt embeX auf eigen-entwickelte automatisierte Test-Systeme, wobei auf unsere modulare Messplattform embeX MPL aufgebaut wird. Dies ermöglicht effiziente Entwicklungen und einfache Erweiterungen für individuelle Projekte. Als Basis dieser Plattform kommt hierbei TestStand in Kombination mit LabVIEW zum Einsatz, um ein möglichst flexibles und einfach erweiterbares Gesamt-System zu garantieren.

In unseren Test-Systemen werden u.a. folgende Module integriert und realisiert:

  • Dynamisches Routing von Messsignalen zu Messgeräten mittels Schaltmatrix
  • Erfassung und Auswertung dynamischer, transienter Signale
  • Anbindung und Ansteuerung von Prüflingen über verschiedene Busse (IO-Link, CAN, u.a.)
  • Systematische Auswertung der erfassten Messdaten 
  • Konnektierung des Prüflings mittels Nadel-Adapters
  • Boundary Scan

Neben der Entwicklung und Implementierung der automatischen Test-Systeme unterstützen wir Sie auch gerne bei der Erstellung der zur Verifikation erforderlichen Test-Strategien, Test-Konzepte und Test-Spezifikationen.

Prüfstände

Neben automatisierten Test-Systemen entwickelt embeX Prüfstände für die Erprobung von einzelnen Komponenten oder Systemen. Hierbei stehen bspw. Dauerlauf-Prüfstände oder Erprobung unter besonderen Umgebungsbedingungen in Fokus. Bedingt durch unser Know-How im Bereich der Prüf-Technik gehören auch Hardware-in-the-Loop-Prüfstände zu unserer Expertise. Auch hier greift embeX auf ein modulares Framework zurück, um Daten-Erfassung und Daten-Handling effizient zu gestalten. Dies ist besonders bei Dauerlauf-Versuchen auf Grund der erfassten Datenmengen von großer Wichtigkeit.

Eigene Prüf-Labore

Klimakammer

  • Temperatur: -40°C  - +80°C
  • Relative Feuchtigkeit: 5% - 100%
  • Klimaklassen 3K3 bis 3K7 nach EN 60721-3-3
  • IP-Schutzklassen IPX3-IPX5 nach ISO 60529
  • Grundfläche: 19 m2, Höhe: 3 m

EMV-Labor

embeX verfügt über ein eigenes EMV-Labor für entwicklungsbegleitende Messungen nach der Fachgrundnorm IEC 61000-x-y und EMV-Debugging. Folgende Messungen werden im Haus mit kalibrierten Geräten durchgeführt:

  • Burst nach IEC 61000-4-4 bis 5,5 kV
  • Surge nach IEC 61000-4-5 bis 5 kV
  • Leitungsgeführte HF Immunität nach IEC 61000-4-6
    • Frequenzbereich: 150 kHz bis 230 MHz
  • Leitungsgeführte Emission nach CISPR 16-2-1
    • Frequenzbereich: 150 kHz bis 30 MHz
  • Spannungseinbruch und -unterbrechung
    • DC nach IEC 61000-4-29
    • AC nach IEC 61000-4-11
  • Emission in TEM-Zelle nach CISPR 16-2-3
    • Frequenzbereich: 30 MHz bis 1 GHz
  • Immunität in TEM-Zelle nach IEC 61000-4-3
    • Feldstärke: Bis 12 V/m
    • Frequenzbereich: 30 MHz bis 1 GHz
    • Testobjekte bis 450 x 300 x 200 mm3
  • ESD nach IEC 61000-4-2
    • Bis 8 kV Kontaktentladung
    • Bis 15 kV Luftentladung

Prüfstand für Energiespeicher

  • Versorgungsspannung: 1 - 800 V
  • Strom: max. 200 A
  • Leistung: max. 110 kW
  • Simulation interner Kapazitäten, Widerstände und Batterieeigenschaften

E-Motoren-Prüfstände

  • Geschwindigkeit: 1558 / 4098 rpm
  • Drehmoment: 481 / 122 Nm
  • Leistung: 78,5 / 52,4 kW
  • Kombinierbar mit o.g. Klimakammer

Tools

  • TestStand (National Instruments)
  • LabVIEW (National Instruments)
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